国外电子与通信教材系列:移动衰落信道

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国外电子与通信教材系列:移动衰落信道

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第1章绪论.1.1移动无线系统的沿革1.2移动无线信道的基本理论1.3本书的结构

第2章随机变量.随机过程和确定性信号2.1随机变量2.1.1重要的概率密度函数2.1.2随机变量的函数2.2随机过程2.2.1平稳过程2.2.2遍历过程2.2.3电平通过率和平均衰落持续时间2.3确定性连续时间信号2.4确定性离散时间信号

第3章作为参考模型的瑞利过程和莱斯过程3.1莱斯过程和瑞利过程的一般描述3.2莱斯过程和瑞利过程的基本性质3.3莱斯过程和瑞利过程的统计特性3.3.1振幅和相位的概率密度函数3.3.2电平通过率和平均衰落持续时间3.3.3瑞利过程衰落时间间隔的统计特性

第4章确定性过程的理论导论4.1确定性信道建模的原理4.2确定性过程的基本性质4.3确定性过程的统计特性4.3.1振幅和相位的概率密度函数4.3.2电平通过率和平均衰落持续时间4.3.3低电平衰落时间间隔的统计特性4.3.4性能估计的各态历经和标准

第5章确定性过程模型参数的计算方法.5.1离散多普勒频率和多普勒系数的计算方法5.1.1等距法(MED)5.1.2均方误差法(MSEM)5.1.3等面积法(MEA)5.1.4蒙特卡罗法(MCM)5.1.5Lp-norm法(LPNM)5.1.6精确多普勒扩展法(MEDS)5.1.7Jakes法(JM)5.2多普勒相位的计算方法5.3确定性瑞利过程的衰落时间间隔

第6章频率非选择性随机信道模型和确定性信道模型6.1Suzuki扩展过程I型6.1.1短期衰落的建模与分析6.1.1.1幅度和相位的概率密度函数6.1.1.2电平通过率和平均衰落持续时间6.1.2长期衰落的建模与分析6.1.3随机Suzuki扩展过程I型6.1.4确定性Suzuki扩展过程I型6.1.5仿真结果和应用6.2Suzuki扩展过程II型6.2.1短期衰落的建模和分析6.2.1.1幅度和相位的概率密度函数6.2.1.2电平通过率和平均衰落持续时间6.2.2随机Suzuki扩展过程II型6.2.3确定性Suzuki扩展过程II型6.2.4仿真结果和应用6.3广义莱斯过程6.3.1随机广义莱斯过程6.3.2确定性广义莱斯过程8.3离散确定性过程的性质8.3.1离散确定性过程的基本特性8.3.2离散确定性过程的统计特性8.3.2.1幅度和相位的概率密度函数和累积分布函数8.3.2.2电平通过率和平均衰落持续时间8.4实现开销和仿真速度8.5与滤波法的比较

附录AJakes功率谱密度和相应的自相关函数的推导附录B具有基本高斯随机过程不同谱形状的莱斯过程的电平通过率的推导附录C确定性莱斯过程的电平通过率和平均衰落持续时间的精确解的推导附录D在Jakes功率谱密度下应用蒙特卡罗法引入的相对模型误差的分析附录E基于COST207的其他C路径信道模型的技术规范MATLAB程序缩略语符号参考文献索引



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